Martin Herrmann
 
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Publikationen

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Martin Herrmann, Kai Grürmann, Fritz Gliem, Hagen Schmidt und Véronique Ferlet-Cavrois, "In-Situ TID Test of 4-Gbit DDR3 SDRAM Devices" in IEEE NSREC Data Workshop, W-41L, 2013. BibTeX Code anzeigen: In-Situ TID Test of 4-Gbit DDR3 SDRAM Devices PDF-Datei herunterladen/anzeigen: herrmann2013insitu.pdf   
Martin Herrmann, Kai Grürmann, Fritz Gliem, Hagen Schmidt, Michele Muschitiello und Véronique Ferlet-Cavrois, "New SEE and TID Test Results for 2-Gbit and 4-Gbit DDR3 SDRAM Devices" in RADECS Data Workshop, DW-21L, 2013. BibTeX Code anzeigen: New SEE and TID Test Results for 2-Gbit and 4-Gbit DDR3 SDRAM Devices PDF-Datei herunterladen/anzeigen: herrmann2013newsee.pdf   
Kai Grürmann, Martin Herrmann, Fritz Gliem, Hagen Schmidt, Gilbert Leibeling, Heikki Kettunen und Véronique Ferlet-Cavrois, "Heavy Ion sensitivity of 16/32-Gbit NAND-Flash and 4-Gbit DDR3 SDRAM" in IEEE NSREC Data Workshop, W-9, 2012. BibTeX Code anzeigen: Heavy Ion sensitivity of 16/32-Gbit NAND-Flash and 4-Gbit DDR3 SDRAM PDF-Datei herunterladen/anzeigen: gruermann2012heavy.pdf   
Kai Grürmann, Martin Herrmann, Fritz Gliem, Hagen Schmidt, Heikki Kettunen und Véronique Ferlet-Cavrois, "New SEE Test Results of 16/32-Gbit SLC NAND-Flash" in RADECS Data Workshop, DW-23L, 2012. BibTeX Code anzeigen: New SEE Test Results of 16/32-Gbit SLC NAND-Flash PDF-Datei herunterladen/anzeigen: vqrjgapqcl2012newsee0.pdf   
Martin Herrmann, Kai Grürmann, Fritz Gliem, Hagen Schmidt, Gilbert Leibeling, Heikki Kettunen und Véronique Ferlet-Cavrois, "New SEE Test Results for 4 Gbit DDR3 SDRAM" in RADECS Data Workshop, DW-25L, 2012. BibTeX Code anzeigen: New SEE Test Results for 4 Gbit DDR3 SDRAM PDF-Datei herunterladen/anzeigen: herrmann2012newsee.pdf   
Kai Grürmann, Dietmar Walter, Martin Herrmann, Fritz Gliem, Heikki Kettunen und Véronique Ferlet-Cavrois, "SEU and MBU Angular Dependence of Samsung and Micron 8-Gbit SLC NAND-Flash Memories under Heavy-Ion Irradiation" in IEEE NSREC Data Workshop, W-24, 2011, Outstanding Data Workshop Presentation Award. BibTeX Code anzeigen: SEU and MBU Angular Dependence of Samsung and Micron 8-Gbit SLC NAND-Flash Memories under Heavy-Ion Irradiation PDF-Datei herunterladen/anzeigen: gruermann2011seuand.pdf   
Kai Grürmann, Dietmar Walter, Martin Herrmann, Fritz Gliem, Heikki Kettunen und Véronique Ferlet-Cavrois, "MBU characterization of NAND-Flash Memories under Heavy-Ion Irradiation", RADECS, C-5, 2011. BibTeX Code anzeigen: MBU characterization of NAND-Flash Memories under Heavy-Ion Irradiation PDF-Datei herunterladen/anzeigen: gruermann2011mbucharacterization.pdf   
Martin Herrmann, Kai Grürmann, Fritz Gliem, Heikki Kettunen und Véronique Ferlet-Cavrois, "Heavy ion SEE test of 2 Gbit DDR3 SDRAM" in RADECS Data Workshop, DW-28, 2011. BibTeX Code anzeigen: Heavy ion SEE test of 2 Gbit DDR3 SDRAM PDF-Datei herunterladen/anzeigen: herrmann2011heavy.pdf   
Kai Grürmann, Dietmar Walter, Martin Herrmann und Fritz Gliem, "Studies of Radiation SEE Effects in NAND-Flash and DDR Types of memories", ESA R&D Final Presentation Days, 2011. BibTeX Code anzeigen: Studies of Radiation SEE Effects in NAND-Flash and DDR Types of memories PDF-Datei herunterladen/anzeigen: gruermann2011studies.pdf  Webseite/URL aufrufen: https://escies.org/webdocument/showArticle?id=852&groupid=6
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